問(wèn)題描述：
某產(chǎn)品的存在電源線(xiàn)和信號線(xiàn)，信號線(xiàn)是屏蔽電纜，按下圖1所示的布置和連接進(jìn)行4Kv的EFT/B測試時(shí)，發(fā)現測試無(wú)法通過(guò)。測試現象表明是產(chǎn)品中的擴展模塊部分的電路出現的異常，然而，測試時(shí)如果將信號線(xiàn)屏蔽電纜的屏蔽層接地斷開(kāi)，測試且可以通過(guò)。
圖1 產(chǎn)品EFT/B測試布置示意圖
原因分析：
基于EFT/B測試的原理，對產(chǎn)品中的擴展模塊進(jìn)行EFT/B測試時(shí)的干擾電流分析，形成擴展模塊PCB干擾電流分析圖如圖2所示。雖然，該產(chǎn)品的電源端口進(jìn)行了接地處理，但是接地總不是理想的0歐姆阻抗接地，因此，EFT/B干擾電流除了會(huì )通過(guò)產(chǎn)品中的接地端子流入參考接地板之外，還會(huì )有電流流過(guò)PCB板流向信號電纜，并通過(guò)信號電纜屏蔽的接地線(xiàn)流入參考接地板。 正是因為有電流流過(guò)了PCB板，導致PCB板中的電流出現干擾而異常。
圖2 擴展模塊PCB干擾電流分析圖
當信號線(xiàn)屏蔽層的接地線(xiàn)斷開(kāi)時(shí)，信號電纜對地的阻抗主要由信號電纜與參考接地板之間的寄生電容（即圖3中的Cp）所形成，阻抗變大，因此，流過(guò)PCB的干擾電流也會(huì )變小，最終導致測試通過(guò)。
圖* 信號線(xiàn)屏蔽電纜接地斷開(kāi)后的干擾電流分析圖
處理措施：
由于產(chǎn)品需要在信號電纜屏蔽層接地時(shí)通過(guò)EFT/B測試，因此，在沒(méi)有其它額外可以改變流過(guò)PCB板電流的措施條件下，只能分析PCB板的設計，以提高PCB板中電路的抗干擾電流能力。據分析，當干擾電流流過(guò)PCB板時(shí)，對PCB內部電路造成干擾的主要機理是PCB板中的地阻抗過(guò)高而導致的公共阻抗耦合的影響。共模干擾電流經(jīng)過(guò)信號輸入接口電路時(shí)的干擾分析原理圖如圖**所示。因此，在無(wú)法改變PCB地阻抗的情況下，可對地阻抗較高區域的信號線(xiàn)進(jìn)行濾波處理，以消除低地阻抗過(guò)高而導致的公共阻抗引起的干擾電平。具體措施是在下圖4中的光耦器件信號輸入端口并聯(lián)1nf濾波電容。
圖4 共模干擾電流經(jīng)過(guò)信號輸入接口電路時(shí)的干擾分析原理圖
思考與啟示：
1)接地點(diǎn)的位置是決定共模干擾電流的流向重要因素;
2)如果接地點(diǎn)選擇在產(chǎn)品對于被測試I/O端口的遠端,那將不利于這個(gè)產(chǎn)品的EMC；
3)不需要進(jìn)行EMC測試的I/O端口,只要其對參考接地板存在容性耦合或該端口接地,那么端口的信號也需要進(jìn)行濾波處理。
